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American Psychological Association 6th edition

Chen, L.-C., Pardeshi, M. S., Lo, W.-T., Sheu, R.-K., Pai, K.-C., Chen, C.-Y., Tsai, P.-Y., & Tsai, Y.-T. (2022). Edge-glued wooden panel defect detection using deep learning. Wood Science & Technology, 56(2), 477-507. https://doi.org/10.1007/s00226-021-01316-3

ISO-690 (author-date, English)

CHEN, Lun-Chi, PARDESHI, Mayuresh Sunil, LO, Win-Tsung, SHEU, Ruey-Kai, PAI, Kai-Chih, CHEN, Chia-Yu, TSAI, Pei-Yu und TSAI, Yueh-Tiann, 2022. Edge-glued wooden panel defect detection using deep learning. Wood Science & Technology. 1 März 2022. Vol. 56, no. 2, p. 477-507. DOI 10.1007/s00226-021-01316-3.

Modern Language Association 9th edition

Chen, L.-C., M. S. Pardeshi, W.-T. Lo, R.-K. Sheu, K.-C. Pai, C.-Y. Chen, P.-Y. Tsai, und Y.-T. Tsai. „Edge-Glued Wooden Panel Defect Detection Using Deep Learning.“. Wood Science & Technology, Bd. 56, Nr. 2, März 2022, S. 477-0, https://doi.org/10.1007/s00226-021-01316-3.

Mohr Siebeck - Recht (Deutsch - Österreich)

Chen, Lun-Chi/Pardeshi, Mayuresh Sunil/Lo, Win-Tsung/Sheu, Ruey-Kai/Pai, Kai-Chih/Chen, Chia-Yu u. a.: Edge-glued wooden panel defect detection using deep learning., Wood Science & Technology 2022, 477-507.

Emerald - Harvard

Chen, L.-C., Pardeshi, M.S., Lo, W.-T., Sheu, R.-K., Pai, K.-C., Chen, C.-Y., Tsai, P.-Y. und Tsai, Y.-T. (2022), „Edge-glued wooden panel defect detection using deep learning.“, Wood Science & Technology, Vol. 56 No. 2, S. 477-507.

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