Lim, Y. D., Zhao, P., Hu, L., Guidoni, L., Likforman, J.-P., Tan, C. S., Nanyang Technological University Singapour (NTU), Laboratoire Matériaux et Phénomènes Quantiques (MPQ (UMR_7162)), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Paris Cité (UPCité), & ANR-20-CE47-0013,HIT,Pièges à ions hybrides pour le calcul quantique: conception verre sur silicium pour une intégration à grande échelle(2020). (2023). Development of Mixed Pitch Grating for the Optical Addressing of Trapped Sr + Ion with Data Analysis Techniques. ISSN: 1094-4087 ; Optics Express ; https://hal.science/Hal-04303773 ; Optics Express, 2023, 31 (15), pp.23801. ⟨10.1364/OE.492698⟩. https://doi.org/10.1364/OE.492698

LIM, Yu Dian, ZHAO, Peng, HU, Liangxing, GUIDONI, Luca, LIKFORMAN, Jean-Pierre, TAN, Chuan Seng, NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY SINGAPOUR (NTU), Laboratoire Matériaux et Phénomènes Quantiques (MPQ (UMR_7162)), CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS)-UNIVERSITÉ PARIS CITÉ (UPCITÉ) und ANR-20-CE47-0013,HIT,Pièges à ions hybrides pour le calcul quantique: conception verre sur silicium pour une intégration à grande échelle(2020), 2023. Development of Mixed Pitch Grating for the Optical Addressing of Trapped Sr + Ion with Data Analysis Techniques. ISSN: 1094-4087 ; Optics Express ; https://hal.science/hal-04303773 ; Optics Express, 2023, 31 (15), pp.23801. ⟨10.1364/OE.492698⟩. 1 Januar 2023. DOI 10.1364/OE.492698.

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Lim, Y.D., Zhao, P., Hu, L., Guidoni, L., Likforman, J.-P., Tan, C.S., Nanyang Technological University Singapour (NTU), Laboratoire Matériaux et Phénomènes Quantiques (MPQ (UMR_7162)), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Paris Cité (UPCité) und ANR-20-CE47-0013,HIT,Pièges à ions hybrides pour le calcul quantique: conception verre sur silicium pour une intégration à grande échelle(2020). (2023), „Development of Mixed Pitch Grating for the Optical Addressing of Trapped Sr + Ion with Data Analysis Techniques“, ISSN: 1094-4087 ; Optics Express ; https://hal.science/Hal-04303773 ; Optics Express, 2023, 31 (15), pp.23801. ⟨10.1364/OE.492698⟩, verfügbar unter:https://doi.org/10.1364/OE.492698.