Treffer: Scanning Probe Microscopy
Titel:
Scanning Probe Microscopy : Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale / edited by Sergei Kalinin, Alexei Gruverman
Veröffentlicht:
New York, NY : Springer New York, 2007
Vertrieb:
Berlin : Springer
Umfang:
1 Online-Ressource (XL, 980 Seiten) : (2-volume-set, not available separately).
Publikationstyp:
Sprache:
Englisch
Schriftenreihe/Mehrbändiges Werk:
SpringerLink: Springer e-Books
RVK-Notation:
Schlagworte:
ISBN:
9780387286686 ; 0387286683 ; 9780387286679 (Sekundärausgabe)
DOI:
10.1007/978-0-387-28668-6