Fast Raman mapping and in situ TEM observation of metal induced crystallization of amorphous silicon - Uebel, David (Verfasser); Kayser, Stefan (Verfasser); Markurt, Toni (Verfasser); Ernst, Owen C. (Verfasser); Teubner, Thomas (Verfasser); Boeck, Torsten (Verfasser); Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik (Herausgebendes Organ) (Preprint / Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik, 2020)