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Treffer: Shape optimization for 3D electrical impedance tomography

Titel:

Shape optimization for 3D electrical impedance tomography / Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik im Forschungsverbund Berlin e.V. ; Karsten Eppler, Helmut Harbrecht

Beteiligt:

Körperschaft:

Veröffentlicht:

Berlin : Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik (WIAS), 2004

Vertrieb:

Hannover : Technische Informationsbibliothek (TIB)

Umfang:

1 Online-Ressource (20 Seiten, 508,44 KB) : Diagramme

Publikationstyp:

E-Book

Sprache:

Englisch

Schriftenreihe/Mehrbändiges Werk:

Preprint / Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik im Forschungsverbund Berlin e.V. ; no. 963

Anmerkungen:

Literaturverzeichnis: Seite 16-18

Schlagworte:

Zusatz-Informationen