Result: RELIABILITY EXPERIENCES WITH CHI/OS.

Title:
RELIABILITY EXPERIENCES WITH CHI/OS.
Authors:
LANGNER JW, LYNCH WC, SCHWARTZ MS
Original Material:
INIST-CNRS
Subject Terms:
Sciences exactes et technologie, Exact sciences and technology, Sciences et techniques communes, Sciences and techniques of general use, Mathematiques, Mathematics, SYSTEME INFORMATIQUE, SYSTEME EXPLOITATION, PROGRAMMATION SYSTEME, FIABILITE, CONCEPTION SYSTEME, LANGAGE D'IMPLANTATION, MECANISME INCLUDE, MULTIPROGRAMMATION STRUCTUREE, INFORMATIQUE, MATHEMATIQUES APPLIQUEES, COMPUTER SCIENCES, APPLIED MATHEMATICS, INFORMATICA, MATEMATICAS APPLICADAS
Document Type:
Academic journal Article
Language:
English
Author Affiliations:
DEP. COMPUT. INF. SCI., CASE WESTERN RESERVE UNIV., CLEVELAND, OHIO 44106
Access URL:
http://pascal-francis.inist.fr/vibad/index.php?action=search&terms=PASCAL7630053796
Rights:
CC BY 4.0
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Notes:
Mathematics.
Accession Number:
edscal.PASCAL7630053796
Database:
PASCAL Archive

Further Information

LE SYSTEME D'EXPLOITATION CHI/OS, DERNIER PROJET DE GRANDE ENVERGURE DE LA CORPORATION CHI, PRESENTE UNE TRES GRANDE FIABILITE, DEPUIS SON INSTALLATION EN NOVEMBRE 1973. BIEN QUE LA CONCEPTION DU SYSTEME SOIT ESSENTIELLE DANS CETTE FIABILITE, DIVERS FACTEURS DE L'ENVIRONNEMENT SONT AUSSI VITAUX. APRES UNE BREVE PRESENTATION DE LA CHARGE DE TRAVAIL DU SYSTEME CHI/OS, ON ANALYSE CES FACTEURS QUI CONTRIBUENT A LA FIABILITE DU LOGICIEL