Treffer: Scan statistics

Titel:
Scan statistics / Joseph Glaz ; Joseph Naus ; Sylvan Wallenstein
Veröffent­licht:
New York [u.a.] : Springer, 2001
Umfang:
XV, 370 S.
Publikationstyp:
Buch
Sprache:
Englisch
Schriftenreihe/­Mehrbändiges Werk:
Springer series in statistics
RVK-Notation:
Schlagworte:
ISBN:
038798819X

Zusatz-Informationen