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Treffer: Scanning Probe Microscopy

Titel:

Scanning Probe Microscopy : Physical Property Characterization at Nanoscale

Beteiligt:

Veröffentlicht:

[Erscheinungsort nicht ermittelbar] : IntechOpen, 2012

Vertrieb:

The Hague : OAPEN FOUNDATION

Umfang:

1 Online-Ressource (256 p.)

Publikationstyp:

E-Book

Sprache:

Englisch

ISBN:

9789535105763 ; 9789535149989

Open Access Rechte:

Open Access

Zusatz-Informationen