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Treffer: Extraction of the thermal resistance and the thermal capacitance of GaN power HEMTs by using pulsed I–V measurements

Titel:

Beteiligt:

Veröffentlicht:

Freiburg : Universität, 2024

Umfang:

1 Online-Ressource

Publikationstyp:

E-Book

Sprache:

Englisch

Anmerkungen:

IEEE transactions on electron devices. - 71, 9 (2024) , 5270-5274, ISSN: 1557-9646

DOI:

10.1109/ted.2024.3429462

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