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Treffer: Automated Data Processing in Non-destructive Testing

Titel:

Automated Data Processing in Non-destructive Testing : Using Deep Learning and Wavefield Simulations / Simon Schmid ; Gutachter: Thomas Schumacher, Christian U. Große, Markus Sause ; Betreuer: Christian U. Große

Beteiligt:

Schmid, Simon (Verfasser); Große, Christian Ulrich (Akademischer Betreuer) ; Schumacher, Thomas (Gutachter); Sause, Markus (Gutachter)

Veröffentlicht:

München : Universitätsbibliothek der TU München, 2025

Umfang:

1 Online-Ressource

Publikationstyp:

E-Book

Sprache:

Englisch

Hochschulschrift:

Dissertation, München, Technische Universität München, 2025

Schlagworte:

Treffer: Automated Data Processing in Non-destructive Testing

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