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Treffer: Automated Data Processing in Non-destructive Testing

Titel:
Automated Data Processing in Non-destructive Testing : Using Deep Learning and Wavefield Simulations / Simon Schmid ; Gutachter: Thomas Schumacher, Christian U. Große, Markus Sause ; Betreuer: Christian U. Große
Beteiligt:
Schmid, Simon (Verfasser); Große, Christian Ulrich (Akademischer Betreuer) ; Schumacher, Thomas (Gutachter); Sause, Markus (Gutachter)
Veröffent­licht:
München : Universitätsbibliothek der TU München, 2025
Umfang:
1 Online-Ressource
Publikationstyp:
E-Book
Sprache:
Englisch
Hochschul­schrift:
Dissertation, München, Technische Universität München, 2025
Schlagworte:

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